光譜響應(yīng)產(chǎn)品介紹

傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測(cè)器面臨許多測(cè)試方法挑戰(zhàn)。如：

1.偏置電壓無(wú)法超過(guò) 12V：傳統(tǒng)量子效率系統(tǒng)使用鎖相放大器，其承受直流電壓無(wú)法過(guò)大，因此在一般的量子效率測(cè)試儀，電偏壓無(wú)法施加超過(guò) 12V。

2.無(wú)法做噪聲頻率分析。

3.無(wú)法直接測(cè)得 NEP 與 D*。

光焱科技針對(duì)新世代的光電探測(cè)器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE。

特色

PD-QE 系統(tǒng)是光焱科技在過(guò)去十年的小光斑 (power mode) 基礎(chǔ)上，進(jìn)化開(kāi)發(fā)完成。

PD-QE光譜響應(yīng)測(cè)試與光電傳感器特性分析 擁有以下幾點(diǎn)特色：

*可應(yīng)用在 PV 的 EQE 量子效率測(cè)試、新型光傳感器的研究。

*在全新的軟件平臺(tái) SW-XQE 上，具有便捷的擴(kuò)展性：可測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) EQE 外，更可整合多種 SMU 的控制，并量測(cè)IV曲線。同時(shí)具備各種分析功能，如 D*、NEP、頻率噪聲圖。

規(guī)格

*PD-QE 有不同的模塊，偏置電壓也可由 20 V 到 1000 V。同時(shí)，可測(cè)量高分辨率的光電流，分辨率最高可達(dá) 10^-16 A。

*波長(zhǎng)擴(kuò)充可達(dá) 1800 nm。

*可選配軟件升級(jí)控制 Kiethley 4200 SMU。

應(yīng)用

PD-QE光譜響應(yīng)測(cè)試與光電傳感器特性分析可用于：

*有機(jī)光傳感器 (OPD, Organic Photodiode)

*鈣鈦礦光傳感器 (PPD, Perovskite Photodiode)

*量子點(diǎn)光傳感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)

*新型材料光傳感器

實(shí)證

# NEP/D*

PD-QE可直接針對(duì)器進(jìn)進(jìn)行頻率噪聲的測(cè)量與作圖。

# EQE 光譜

PD-QE 可以進(jìn)行 EQE 光譜測(cè)試。除了標(biāo)準(zhǔn)的 300nm ~ 1100nm 波段，PD-QE 可擴(kuò)展到 1800nm。圖中顯示不同波長(zhǎng)響應(yīng)器件，在 PD-QE 系統(tǒng)下，測(cè)的 EQE 量子效率光譜。

# 整合多種SMU控制進(jìn)行IV曲線測(cè)試

PD-QE 已整合 Keithley 與 Keysight 出產(chǎn)的多種 SMU，進(jìn)行多種的 IV 曲線掃描。用戶無(wú)需另外尋找或是自行整合 IV 曲線測(cè)試。圖中顯示 PD-QE 測(cè)試不同樣品的 IV 曲線，并進(jìn)行多圖顯示。

#噪聲電流頻譜圖

PD-QE 憑借*進(jìn)數(shù)字訊號(hào)采集與處理技術(shù)，直接可測(cè)試各種探測(cè)器在不同頻率下的噪聲電流圖。用戶無(wú)需在額外購(gòu)買、整合頻譜分析儀進(jìn)行測(cè)種測(cè)試！并且軟件可以進(jìn)行多種頻段的特性分析，如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是針對(duì)新世代 PD 測(cè)試的完整解決方案。