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簡要描述：光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀是商用CMOS圖像傳感器測試儀，可以提供全面的CMOS圖像傳感器參數(shù)表征。被測設備可以是幾種類型的CMOS圖像傳感器模塊。檢驗程序符合EMVA 1288標準。因此，可用于進行晶圓級光學檢測、加工參數(shù)控制、微透鏡設計、微透鏡驗證。SG-A CMOS圖像傳感器測試儀的高度準直光束（<1°）可以克服傳統(tǒng)光學系統(tǒng)（如積分球系統(tǒng)）無法解決的新制造工藝的檢測困難。
產(chǎn)品型號：SG-A廠商性質：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-04-10訪 問 量： 2556產(chǎn)品分類
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| 品牌 | Enlitech | 應用領域 | 電子 |
|---|---|---|---|
| 全光譜的波長范圍 | 300-1100nm或350-1000nm（PTC） | 動態(tài)范圍 | 80dB、100dB或140dB |
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
| 測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
*無損光學檢測。
*高度準直梁角 /高準直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,<3度 (不同型號)
*高均勻光束點：≥ 99%。
*光的不穩(wěn)定性≤1%。
*高動態(tài)范圍測試能力：80dB~140dB（不同型號）。
*可以測試CMOS圖像傳感器參數(shù)。量子效率、光譜響應、系統(tǒng)增益、靈敏度、動態(tài)范圍、暗電流/噪聲、信噪比、飽和容量、線性誤差（LE）、DCNU（暗電流不均勻性）、PRNU（光響應不均勻性）、CRA。
*全光譜波長范圍:300nm-1100nm或350nm~1000nm（PTC）。
*波長可擴展至1700納米以上。
*DUT 封裝：CIS 模塊，PCB 板級，CIS 攝像頭，有/無微透鏡。
*SG-A和DUT之間的 “直接 “或 “握手 “通信協(xié)議。
*定制的測試夾具和平臺（手動或自動，最多6軸）。
*功能完整的分析軟件ARGUS®。
*應用：指紋識別（CIS+鏡頭，CIS+準直器，TFT陣列傳感器）CIS的微透鏡設計，晶圓級光學檢測，CIS DSP芯片算法開發(fā)，Si TFT傳感器面板，飛行時間相機傳感器，接近傳感器（量子效率，靈敏度，線性度，SNR等），d-ToF傳感器，i-ToF傳感器，多光譜傳感器，環(huán)境光傳感器（ALS），指紋顯示（FoD）傳感器。
光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀的功能很好，因此相關的規(guī)格和配件也很齊全。更多細節(jié)可再了解。
以下是主要的能力規(guī)格:
– 全光譜的波長范圍：300-1100nm或350-1000nm（PTC）
– 波長范圍可以擴展到1700 nm或更高
– 單一波長源：470nm、530nm、630nm、940nm（±5nm），或自定義
– 動態(tài)范圍：80dB、100dB或140dB
– 測試夾具：DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制
– 平臺：非、手動3軸，或6軸（手動+自動）平臺（可定制）
光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀可用于：
*指紋識別（CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT-陣列傳感器)
*CIS的微透鏡設計，晶圓級光學檢查
*CIS DSP 芯片的算法開發(fā)
*Si TFT 傳感器面板
*飛行時間相機傳感器
*近距離感應器 (量子效率、靈敏度、線性度、SNR等。)
*d-ToF傳感器、i-ToF傳感器
*多光譜傳感器
*環(huán)境光傳感器 (ALS)
*指紋顯示（FoD）傳感器
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